你知道SEM掃描電鏡中的電子束照射對(duì)樣本有哪些可能造成的損傷嗎?
日期:2023-07-25 09:15:51 瀏覽次數(shù):164
在掃描電鏡中,電子束照射對(duì)樣本可能造成多種損傷,特別是在高能量電子束下。以下是一些可能的樣本損傷:
表面電荷積累:高能量電子束照射樣本表面時(shí),可能會(huì)導(dǎo)致電子從樣本表面被排斥出去,造成表面電荷積累。這些表面電荷可能會(huì)影響樣本表面形態(tài),導(dǎo)致圖像失真。
樣本脫水和收縮:電子束照射會(huì)引起樣本內(nèi)部水分的蒸發(fā)和去除,導(dǎo)致樣本脫水和收縮。這可能會(huì)改變樣本的形狀和尺寸,導(dǎo)致失真。
電子束傷害:高能量電子束照射可能會(huì)對(duì)樣本結(jié)構(gòu)造成直接傷害,特別是對(duì)于柔軟和有機(jī)樣本。電子束照射會(huì)使樣本中的分子和原子發(fā)生斷裂,導(dǎo)致樣本結(jié)構(gòu)的破壞。
電子輻照損傷:高能量電子束照射樣本時(shí),電子輻射可能會(huì)對(duì)樣本中的分子和原子產(chǎn)生一系列的物理和化學(xué)效應(yīng),導(dǎo)致樣本的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)發(fā)生改變。
熱效應(yīng):電子束照射樣本時(shí),會(huì)引起樣本局部區(qū)域的升溫。高溫可能會(huì)導(dǎo)致樣本的熱膨脹和變形。
光化學(xué)反應(yīng):高能量電子束可以激發(fā)樣本中的化學(xué)反應(yīng),導(dǎo)致樣本的化學(xué)性質(zhì)發(fā)生變化。
氣體解吸: 在SEM掃描電鏡的真空環(huán)境下,電子束照射樣本可能會(huì)引起樣本內(nèi)氣體的解吸,導(dǎo)致氣泡形成,影響圖像質(zhì)量。
因此,在使用掃描電鏡觀察樣本時(shí),需要仔細(xì)選擇合適的電子束參數(shù)和采用適當(dāng)?shù)臉颖咎幚矸椒?,以減少電子束照射對(duì)樣本的損傷。對(duì)于特別脆弱或敏感的樣本,可能需要采用較低的電子束能量和較短的曝光時(shí)間來(lái)避免損傷。此外,可以通過(guò)冷凍等技術(shù)來(lái)保護(hù)某些生物樣本,并在觀察前進(jìn)行導(dǎo)電處理,以減少樣本損傷。
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