SEM掃描電鏡對(duì)樣品的7個(gè)要求介紹
日期:2023-05-11 09:07:03 瀏覽次數(shù):168
掃描電鏡制樣是一項(xiàng)非常重要的工作,制備不良的樣品會(huì)嚴(yán)重影響SEM掃描電鏡觀察的效果和分析結(jié)果。以下是掃描電鏡制樣對(duì)樣品的一些基本要求:
平整度:樣品表面應(yīng)盡可能平整,避免出現(xiàn)明顯的凸起或凹陷,這有助于電子束的掃描和定位。
干燥度:樣品應(yīng)干燥透徹,否則水分會(huì)干擾電子束的穿透和反射,影響掃描電鏡觀察效果。
穩(wěn)定性:樣品應(yīng)具有較好的穩(wěn)定性,以避免SEM掃描電鏡觀察過程中出現(xiàn)樣品的變形、脫落或其它異常情況。
導(dǎo)電性:樣品應(yīng)具有一定的導(dǎo)電性,以便電子束可以穿透和反射,形成清晰的掃描電鏡圖像。
厚度:樣品應(yīng)制備成較薄的薄片或薄膜,以便電子束可以穿透并掃描到樣品表面,獲得高分辨率的SEM掃描電鏡圖像。
純度:樣品應(yīng)具有較高的純度,以避免掃描電鏡觀察過程中出現(xiàn)其它雜質(zhì)或物質(zhì)的干擾。
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